Projectbeschrijving
Het ontwikkelen van een snelle en nauwkeurige detectie methode voor cracks in wafers en zonnecellen. Huidige methodes zoals visuele inspectie zijn zeer onnauwkeurig en vaak arbeidsintensief.
Het ontwikkelen van een snelle en nauwkeurige detectie methode voor cracks in wafers en zonnecellen. Huidige methodes zoals visuele inspectie zijn zeer onnauwkeurig en vaak arbeidsintensief.